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上海儀電760CRT 雙光束紫外可見分光光度計

型    號:
所屬分類:紫外可見分光光度計
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上海儀電760CRT 雙光束紫外可見分光光度計儀器具有波長掃描、時間掃描、定量分析、定波長測試、多波長測試等功能,適合用于醫(yī)藥、藥學、生物化學、環(huán)境保護、化學工業(yè)等實驗室的日常分析和研究工作的需要。

上海儀電760CRT 雙光束紫外可見分光光度計產(chǎn)品概述:

品牌:上海儀電分析儀器有限公司(原上海精科)
名稱:紫外可見分光光度計
型號:
760CRT

 

760CRT 雙光束紫外可見分光光度計是軟件基于Windows7平臺的自動記錄分光光度計,界面友好、美觀,操作簡單,通過打印機可打印出圖文合一的分析報告,并可將圖譜數(shù)據(jù)或測試數(shù)據(jù)傳送Execl進行處理,可將圖譜貼至Word中發(fā)表。儀器具有波長掃描、時間掃描、定量分析、定波長測試、多波長測試等功能,適合用于醫(yī)藥、藥學、生物化學、環(huán)境保護、化學工業(yè)等實驗室的日常分析和研究工作的需要。

主要特點:

● 采用全息閃耀光柵,雙光束 C - T 式光路結(jié)構,高分辨率,低雜散光,測光精度高,穩(wěn)定性能好。

● 微機控制,自動記錄,打印機可在一張記錄紙上打印出含有光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)的測試報告。

● 光源自動轉(zhuǎn)換(可在294nm~364nm間任意設定)

● 功能*的光譜處理能力。

760CRT.png

 

軟件特點:

● 信息存貯容量大,保存方便。

● 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜,可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數(shù)和能量圖譜掃描,透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉(zhuǎn)換,對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系的圖譜可輕松地相互轉(zhuǎn)換,對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運算、導數(shù)運算。

● 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。

● 時間掃描可進行動力學研究。

● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ的測定。

● 軟件提供了定波長和多波長測試,并可對測試數(shù)據(jù)進行注釋,對同一樣品多用戶的測試提供了方便,多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。

● 可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設置為儀器當前測試條件。

● 打印機可進行參數(shù)與圖譜打印、參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印。

技術指標:

● 測光方式:雙光束

● 單色器:Czerny-Turner

● 焦距:200mm

● 光柵:全息閃耀,1600線/mm

● 光束分光系統(tǒng):斬波器

● 檢測器:光電倍增管R928

● 光譜帶寬:0.08 - 5nm,間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)

● 波長設定:電腦輸入

● 波長范圍:190nm ~ 900nm

● 波長允許誤差:±0.3nm(內(nèi)裝自動波長校正裝置)

● 波長重復性:≤ 0.2nm

● 分辨率:優(yōu)于 0.15nm

● 透射比允許誤差:±0.3% (T) (以NBS930D測定)

● 透射比重復性:≤ 0.2% (T)

● 雜散光:≤0.08% (T) (在220nm處,以Nal測定)(在360nm處,以NaNO2測定)

● 基線平直度:≤±0.002 (A)

● 噪聲:±0.3% (T) (100%處) ±0.1% (T) (0%處)

● 掃描速度:快、中、慢

● 穩(wěn)定性:≤±0.004 A/30min

● 電源電壓:AC220V±22V 50Hz±1Hz

● 功率:300 W

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